VIC-2D
VIC-2D为平面样件机械试验提供全视野位移及应变数据。该技术运用数字散斑相关技术，可以测量物体的真实位移，并且可获得物体表面每一点上的拉格朗日应变张量。VIC-2D可以测量平面内的任意位移和应变，范围从50个微应变至2000%以上的应变，待测物的尺度从1mm至10m。其配置简单，不要求激光或特殊照明条件，只需要简单校准程序和随机施加在待测物体上的散斑即可完成。
VIC-2D支持微纳米级测量，包括SEM扫描电镜，AFM原子力显微镜，远心放大镜头下的微小物体，并有专门SEM Drift校正模块。其可以由3D系统分离出两套2D系统单独应用，通过特殊校正板进行双面测量。
VIC - 2D 系统
首页
VIC-2D 测量系统
最新动态
Copyright © 2013-2015 ruituotech.com . All Rights Reserved . 京ICP备11014309号 技术支持：云梦网络
关于我们
睿拓官微
产品介绍
行业应用
技术中心
本网站由阿里云提供云计算及安全服务