INVITATION

2018年春季DIC数字图像相关技术发展趋势研讨会

(第一轮通知)

2018年5月15日   北京                    2018年5月17日      上海

 

 

DIC数字图像相关技术(Digital Image Correlation)源自美国南卡罗莱纳大学(USC)，其衍生的相关测量技术已经在全球范围广泛用于全场应变、变形、位移、振幅、模态等信息的测量和获取，在军事、核电、航空航天、汽车交通、土木结构、材料部件等领域广泛使用。在中国也有越来越多用户开始了解和使用DIC测量技术及产品，在各类高校院所、科研机构、及工业领域都有深入应用，迄今该技术在国内已有超过数百家客户应用，并取得卓有成效的科研成果。

 

为促进该技术在国内应用的学术成果交流，北京睿拓时创科技有限公司已经连续两年成功举办DIC相关研讨会，每年均会邀请国内外各界研究DIC技术的学者和用户来一起交流DIC技术的发展趋势以及相关成功经验，2018年春季DIC研讨会即将拉开帷幕，今年5月份美国CSI（Correlated Solutions.Inc)公司合作伙伴北京睿拓时创科技有限公司（5月15日在北京）、研索仪器科技（上海）有限公司（5月17日在上海）分别举办DIC技术发展趋势研讨会，邀请各个行业的用户与学者进行最新的技术和DIC发展趋势进行交流，并将在现场进行设备展示等活动。

 

在此我们诚邀各界学者专家及关注光学测试技术人士莅临参会！

（本次会议不收取任何会务费，会议当天免费提供自助午餐，住宿及交通自理）

往期研讨会回顾：

2016年10月（上海、北京）

2017年5月（上海）




特邀嘉宾

特邀主讲/ Dr.Hubert W.Schreier                

美国CSI公司，总裁

  • DIC技术发明人之一

  • 南卡罗莱纳大学机械工程学院Ph.D

  • 师从DIC理论鼻祖南卡罗来纳大学Prof. Sutton

特邀嘉宾/ Dr. Chao Yuh Jin赵玉津

南卡罗莱纳大学机械工程学院,终身教授

  • 美国机械工程师学会(ASME) 会士

  • 美国实验力学学会(SEM) 会士

  • DIC技术发明人之一

  • 在国际学术会议、高校、工业界超过一百五十次以上的学术报告


特邀嘉宾持续更新中！


支持单位

时间与地点

时间:2018年5月15日（周二）  

地点:清华紫光国际交流中心

地址:北京市海淀区中关村东路1号院10号楼紫光国际交流中心(近清华大学东门)

 

           

参会回执/联系方式

会务联系：

010-85990767 王子璇15011337582 wang.zixuan@ruituotech.com

                           孙胜洁15022658276 sun.shengjie@ruituotech.com

DIC数字图像相关技术发展趋势研讨会(2018春季)

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注意事项                                                

1. 请将参会回执发送至wang.zixuan@ruituotech.com

2. 如多人参会，请每位参会嘉宾分别填写完整信息。

3.请提前3天报名，如无法按时出席，请及时告知。


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