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SE Systems

激光散斑干涉无损检测系统

 


剪切散斑干涉(Shearography) /电子散斑干涉(ESPI)源自1971年诺贝尔物理学奖得主Dennis Gabor提出的全息干涉法(Holography),1980年Hung Y Y等将全息干涉技术改良,提出了剪切散斑干涉法,该方法利用物体表面散射的光再分光后形成干涉,因此对测量时环境(振动及噪声)的要求不高,而且是非接触和全场检测。

 

SE Systems

        SE Systems基于剪切散斑干涉(Shearography)/电子散斑干涉(ESPI)原理,并由其延伸出振动成像(Vibrography)技术。在不损害或不影响被检对象使用性能的前提下,检测被检对象中是否存在缺陷或不均匀性,并给出缺陷(气泡、空隙、分层、裂纹、脱粘等)的大小、位置、性质和数量等信息,广泛应用于航空、航天、机械制造、汽车和建筑等复合材料使用以及结构定期检测。可测量构件或者材料的固有频率、振幅等,其分辨率可达到光波长,完全满足科研领率高精度要求。

 

系统特点:

 

无损检测

适应多种严酷环境

复杂结构内部探伤

全数字化系统

高品质、多配置

灵活便携、高效、安全

 
无损检测原理简介
 

 

 

 

 

  • 当相干光(激光)照射到引起漫反射的物体表面时,物体各部位所发出的次波在物体表面的前方相干而形成大量的明暗斑点,  

  • 记录下物体加载前后的散斑图 ;        

  • 通过计算物体表面各点离面位移,相位重构出位移场分布;

  • 如果物体内部存在缺陷,即内部不连续,则导致位移场变化不连续,其干涉图像成蝴蝶形斑纹

 

 
SE4系统参数
 

像素分辨率和FPS:从2.4 Px@50 Hz到24.6 Mpx@4.5 Hz
数据传输:笔记本电脑和台式机的GigE接口
电源:外部12V电源    可选:POE
镜头适配器:F-Mount(通过SE4调节光圈)
剪切:手动(微调和快速x-y变化)。
可选:远程

 

 
加载方式

 

 

 

1

热加载

 

 

 

 

2

真空加载

 

 

 

 

 

3

动力加载

 

 

 

 

 
系统构成
 

 

 

 

 
系统应用
 

01海洋船舶

 

  • 游艇玻璃钢船体缺陷检测

  • 游艇桅杆缺陷检测

  • 船舵叶片缺陷检测

 

02航空

 

  • 辅助机身修复

  • 油箱缺陷检测

  • 机头罩缺陷检测

 

03新能源

 

  • 锂电池包装缺陷检测

 

04复合材料

 

  • 玻璃纤维层合板

  • 泡沫结构

  • 蜂窝结构

 

05其他

 

  • 超声波管道清洗时振幅测量

  • 发动机涡轮叶片振幅测量

 

 

 

 

 

 

 
 
部分客户
 

 

Airbus AG, DE(空客)  

Audi AG, DE (奥迪)

BMW AG, DE(宝马)

NASA,US(美国国家航空航天局)

Italien Air Force, IT(意大利空军)

Shell AG, NL(壳牌)

Raytheon Systems Limited, UK(雷神)

MESNAC Qingdao, CN(软控股份)

Nanyang Technological University, SG(新加坡南洋理工大学)

University of Berlin, DE(德国柏林大学)

University of Manchester, UK(英国曼彻斯特大学)

Indian Institute of Technology Hyderabad, IN(印度理工学院海得拉巴)

Tsukuba University, JP(日本筑波大学)

Universidade Federal de Santa Catarina, BR(巴西圣卡塔琳娜联邦大学)

University of Kassel, DE(德国卡塞尔大学)

University of Bath, UK(英国巴斯大学)